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SEMI发布五项新技术标准――包含光伏硅材料检测方法

日期:2009-03-05    来源:电子产品世界  作者:电子产品世界

国际新能源网

2009
03/05
18:54
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关键词: SEMI 检测方法

    SEMI日前发布了五项新技术标准,涉及半导体、MEMS以及光伏制造产业,由设备及材料供应商、SEMI国际标准项目小组等的技术专家共同制定而成。

    此次新标准包含了对于光伏硅">光伏硅原料的检测方法。SEMI国际标准总监James Amano,表示,“随着光伏产业的迅速发展,SEMI已就光伏产业创建了一套标准体系。相信新标准的建立对于设备及工艺领域将有所保障。”

    五项标准分别是:

    SEMI E151
    Guide for Understanding Data Quality
       
    SEMI F107
    Guide for Process Equipment Adaptor Plates
       
    SEMI M75
    Specifications for Polished Monocrystalline Gallium Antimonide Wafers
       
    SEMI MS8
    Guide to Evaluating Hermeticity of MEMS Packages

    SEMI PV1
    Test Method for Measuring Trace Elements in Photovoltaic-Grade Silicon by High-Mass Resolution Glow Discharge Mass Spectrometry
 

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